[发明专利]基于高压LED芯片的隔离结构及隔离方法有效

专利信息
申请号: 201510366986.9 申请日: 2015-06-29
公开(公告)号: CN104934457B 公开(公告)日: 2017-10-10
发明(设计)人: 李庆 申请(专利权)人: 聚灿光电科技股份有限公司
主分类号: H01L27/15 分类号: H01L27/15;H01L21/784;H01L21/3065
代理公司: 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙)32235 代理人: 杨林洁
地址: 215123 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于高压LED芯片的隔离结构及隔离方法,隔离结构包括衬底及若干位于衬底上的高压LED外延结构,隔离结构上定义有第一刻蚀区域和第二刻蚀区域,第二刻蚀区域环绕于第一刻蚀区域外围,第一刻蚀区域内包括若干第一切割道和第一隔离道,第一隔离道的刻蚀至衬底,第一切割道的刻蚀深度小于第一隔离道的刻蚀深度,第二刻蚀区域为深刻蚀区域。本发明大大提高了第一刻蚀区域内的高压LED芯片良品率,而由于第一刻蚀区域的面积远远大于第二刻蚀区域的面积,因此能够有效提高高压LED芯片的良品率,提高了隔离的效益。
搜索关键词: 基于 高压 led 芯片 隔离 结构 方法
【主权项】:
一种基于高压LED芯片的隔离结构,所述隔离结构包括衬底及若干位于衬底上的高压LED外延结构,所述高压LED外延结构包括通过串联电极串联的第一LED外延结构和第二LED外延结构,相邻所述高压LED外延结构之间定义有切割道,每个高压LED外延结构中的第一LED外延结构和第二LED外延结构之间定义有隔离道,其特征在于,所述隔离结构上定义有第一刻蚀区域和第二刻蚀区域,所述第二刻蚀区域环绕于第一刻蚀区域外围,所述第一刻蚀区域内包括若干第一切割道和第一隔离道,所述第一隔离道的刻蚀至衬底,第一切割道的刻蚀深度小于第一隔离道的刻蚀深度,第二刻蚀区域内包括若干第二切割道和第二隔离道,第二切割道和第二隔离道均刻蚀至衬底。
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