[发明专利]检测电路、方法和像素电路在审
| 申请号： | 201510370182.6 | 申请日： | 2015-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN104882100A | 公开（公告）日： | 2015-09-02 |
| 发明（设计）人： | 李永谦;王龙彦;盖翠丽 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/32 | 分类号： | G09G3/32 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 彭瑞欣;陈源 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种检测电路、方法和像素电路。该检测电路包括第一检测模块、第二检测模块、负载模块、发光器件和驱动模块，第一检测模块和驱动模块以及所述负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及所述负载模块连接。本发明中既可以检测驱动模块的特性参数又可以检测发光器件的特性参数。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 电路 方法 像素 | ||
【主权项】：
一种检测电路，其特征在于，包括：第一检测模块、第二检测模块、负载模块、发光器件和驱动模块，第一检测模块和驱动模块以及所述负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及所述负载模块连接。
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