[发明专利]一种半导体封装方法有效
申请号: | 201510374391.8 | 申请日: | 2015-06-30 |
公开(公告)号: | CN105047569B | 公开(公告)日: | 2018-02-27 |
发明(设计)人: | 石磊 | 申请(专利权)人: | 通富微电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/58;H01L21/60 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)44280 | 代理人: | 何青瓦 |
地址: | 226004 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种半导体封装方法,包括以下步骤制作高引脚的金属框架,在金属框架的载体上面涂助焊剂或粘片胶,将芯片背面与金属框架的载体部分粘接,将芯片门极与框架引脚焊接,取一平板状金属片,在金属片下面涂高介电材料,将金属片与芯片圆区和框架引脚焊接。与现有技术相比,本发明的有益效果是该工艺实现了芯片尺寸不同的情况下使用同样尺寸的金属片,降低生产成本。芯片与引脚通过倒打线的方式焊接,同时金属片下面涂高介电材料,使用焊线焊接和金属片桥接结合的焊接方法,芯片与金属框架之间的连接更为紧密,提高产品的良率,保证产品的可靠性,在提高产品封装良率、的同时满足了大功率、高能耗产品的性能要求。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 封装 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体封装方法,其特征在于,包括以下步骤:a)制作高引脚的金属框架(1);b)将所述金属框架(1)与芯片(3)背面粘接;c)将所述金属框架(1)的引脚与所述芯片(3)正面的门极通过焊线(4)倒打线的方式焊接;d)将所述金属框架(1)的引脚和芯片(3)正面的圆区与金属片(6)桥接;其中,所述倒打线的方式用于降低所述焊线(4)的弧高。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于通富微电子股份有限公司,未经通富微电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510374391.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光电元件检测用的高频探针卡
- 下一篇:一种组装探针卡上探针头的方法和组装系统
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造