[发明专利]基于硅基低漏电流双固支梁可动栅的频率检测器有效
申请号: | 201510378150.0 | 申请日: | 2015-07-01 |
公开(公告)号: | CN105004919B | 公开(公告)日: | 2017-12-29 |
发明(设计)人: | 廖小平;严嘉彬 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G01R23/02 | 分类号: | G01R23/02 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙)32249 | 代理人: | 杨晓玲 |
地址: | 211189 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明的基于硅基低漏电流双固支梁可动栅MOSFET的频率检测器,由隔直电容、λ/100延迟线,λ/4延迟线、高频扼流线圈、开关、低通滤波器、双固支梁可动栅结构的N型MOSFET构成。双固支梁作为MOSFET的可动栅极,有效地降低了功耗。频率检测时,两个固支梁都处于下拉状态,通过延迟线产生一定相位差的两路信号输入到MOSFET的两个固支梁栅极上,检测源漏极饱和电流,由相位差得到待测微波信号的频率。信号放大状态时,连接λ/100延迟线的固支梁处于下拉状态,λ/4延迟线末端短路,始端相当于开路,待测微波信号完全由另一路输出到固支梁,电路处于信号放大状态。由于悬浮的固支梁下方存在着高阻区域,增大了MOSFET的反向击穿电压。 | ||
搜索关键词: | 基于 硅基低 漏电 流双固支梁可动栅 频率 检测器 | ||
【主权项】:
一种基于硅基低漏电流双固支梁可动栅的频率检测器,其特征是:MOSFET制作在P型硅衬底(1)上,沟道栅氧化层(2)设置在P型硅衬底(1)上,在沟道栅氧化层(2)的上方设有两个固支梁(9),材料为Au,作为MOSFET的可动栅,其下拉电压设置为MOSFET的阈值电压,固支梁(9)横跨在锚区(6)上,锚区(6)与输入引线(5)相连,作为待测微波信号和直流偏置信号的输入端,其中,待测微波信号由微波信号输入端口输入,通过隔直电容后分为两路,分别经λ/100延迟线和λ/4延迟线输入到两个固支梁(9)上,直流偏置信号由第一偏置端口(12)和第二偏置端口(13)输入,通过高频扼流线圈分别输入到两个固支梁(9)上,锚区(6)和输入引线(5)的制备材料为多晶硅,固支梁(9)的下面各分布着一个下拉电极(4),下拉电极(4)接地,下拉电极(4)上覆盖一层绝缘的氮化硅介质层(3);MOSFET源区(7)、MOSFET漏区(8)分别设置在P型硅衬底(1)上,源漏引线(11)分别通过有源区引线孔(10)与MOSFET源区(7),MOSFET漏区(8)连接。
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