[发明专利]一种探测不同深度介质的方法及电路有效
申请号: | 201510380864.5 | 申请日: | 2015-07-02 |
公开(公告)号: | CN105158576B | 公开(公告)日: | 2017-12-19 |
发明(设计)人: | 郭明峰;陈志宏;曾繁建;黄海林 | 申请(专利权)人: | 漳州市东方智能仪表有限公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司35100 | 代理人: | 蔡学俊 |
地址: | 363000 福建省漳*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明涉及一种探测不同深度介质的方法及电路。该方法首先,提供一传感器,该传感器由一组PCB铜箔构成,即由一大极板及两个小极板组成;其次,提供一可随着探测深度的变化而能够改变探测频率的深度探测信号Ftest,施加至所述步骤S01中传感器的大、小极板上,使得大、小极板之间形成电磁场;再而,提供一作用于大极板的自校准信号Fcal,以调整大、小极板的相位差,从而提高探测灵敏度;最后,对经深度探测信号Ftest驱动后的大、小极板输出的信号进行整形及相位比较,并对相位比较后的信号进行滤波后输出的信号进行处理,从而判断当前探测深度下的介质情况。本发明实现了不需额外增加运算放大器,即可实现不同深度介质的探测。 | ||
搜索关键词: | 一种 探测 不同 深度 介质 方法 电路 | ||
【主权项】:
一种探测不同深度介质的方法,其特征在于:包括如下步骤,S01:提供一传感器,该传感器由一组PCB铜箔构成,即由一大片铜箔和两小片铜箔构成,其中,大片铜箔作为大极板,小片铜箔作为小极板;S02:提供一可随着探测深度的变化而能够改变探测频率的深度探测信号Ftest,施加至所述步骤S01中传感器的大、小极板上,使得大、小极板形成电磁场;S03:提供一作用于大极板的自校准信号Fcal,以调整大、小极板的相位差,从而提高探测灵敏度;S04:对经深度探测信号Ftest驱动后的大、小极板输出的信号进行整形及相位比较,并对相位比较后的信号进行滤波后输出的信号进行处理,从而判断当前探测深度下的介质情况。
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