[发明专利]热传导性片材、热传导性片材的固化物和半导体装置在审

专利信息
申请号: 201510381414.8 申请日: 2015-07-02
公开(公告)号: CN105244333A 公开(公告)日: 2016-01-13
发明(设计)人: 望月俊佑;北川和哉;白土洋次;长桥启太;津田美香;平沢宪也;黑川素美 申请(专利权)人: 住友电木株式会社
主分类号: H01L23/373 分类号: H01L23/373
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 金世煜;苗堃
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的热传导性片材含有热固化性树脂(A)和分散于热固化性树脂(A)中的无机填料(B)。而且,本发明的热传导性片材为,对于将该热传导性片材的固化物在700℃加热处理4小时而灰化后的灰化残渣含有的无机填料(B),利用水银压入法进行细孔径分布测定时,利用上述水银压入法测得的、以细孔径R为横轴且以对数微分细孔容积(dV/dlogR)为纵轴时的无机填料(B)的细孔径分布曲线,上述细孔径R在0.1μm~5.0μm的范围具有第1极大值,上述细孔径R在10μm~30μm的范围具有第2极大值,上述第2极大值处的第2细孔径与上述第1极大值处的第1细孔径之差为9.9μm~25μm。
搜索关键词: 传导性 固化 半导体 装置
【主权项】:
一种热传导性片材,含有热固化性树脂和分散于所述热固化性树脂中的无机填料,其特征在于,对于将该热传导性片材的固化物在700℃加热处理4小时灰化后的灰化残渣含有的所述无机填料,利用水银压入法进行细孔径分布测定时,利用所述水银压入法测得的、以细孔径R为横轴且以对数微分细孔容积即dV/dlogR为纵轴时的所述无机填料的细孔径分布曲线中,所述细孔径R在0.1μm~5.0μm的范围具有第1极大值,所述细孔径R在10μm~30μm的范围具有第2极大值,所述第2极大值处的第2细孔径与所述第1极大值处的第1细孔径之差为9.9μm~25μm。
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