[发明专利]基于X射线荧光元素录井技术的盐底卡取方法有效
申请号: | 201510385538.3 | 申请日: | 2015-06-30 |
公开(公告)号: | CN105044140B | 公开(公告)日: | 2018-03-16 |
发明(设计)人: | 冯国民;胡剑风;何华;王海;姬月凤;魏超峰;李小龙 | 申请(专利权)人: | 北京奥意尔工程技术有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙)32257 | 代理人: | 李广 |
地址: | 100012 北京市朝阳区来*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于X射线荧光元素录井技术的盐底卡取方法,包括以下步骤步骤1利用主量元素进行岩性定名;步骤2通过微量元素确定元素标志层;步骤3对标志层上、下的泥岩进行数据分析;步骤4通过图版进行判别;该方法主要用于塔里木盆地库车坳陷古近系库姆格列木群的膏盐岩底部界面的卡取,降低膏盐岩层钻进的风险,保证钻井安全钻开油气层,实现地质目的具有举足轻重的作用,属于石油勘探的地质研究领域。 | ||
搜索关键词: | 基于 射线 荧光 元素 技术 盐底卡取 方法 | ||
【主权项】:
一种基于X射线荧光元素录井技术的盐底卡取方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤1:通过X射线荧光元素录井技术对泥岩中的化学元素进行分析,得到泥岩中元素的含量,利用主量元素进行岩性定名;步骤2:通过微量元素Sr确定元素标志层;步骤3:对标志层上、下的泥岩进行数据分析,将标志层上部的泥岩定义为盐间泥岩,利用数据统计盐间泥岩各元素的平均含量,当标志层下部出现泥岩,且Mg含量升高,达到盐间泥岩Mg的含量1.5‑2倍时,同时确定Cl元素的含量是否低于2%以下,如果符合,则判断是符合盐底泥岩的特征;步骤4:通过图版进行判别,将元素数据落入三角图版和交汇图版中,通过落点的区域来判断是否为盐底泥岩。
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