[发明专利]一种基于局部像素值的液晶屏缺陷检测方法有效
申请号: | 201510391088.9 | 申请日: | 2015-07-06 |
公开(公告)号: | CN104978748B | 公开(公告)日: | 2018-01-12 |
发明(设计)人: | 刘霖;刘鹏;谢煜;何岗;梁翔;胡勇;张静;刘娟秀;刘永;叶玉堂 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心51203 | 代理人: | 张杨 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 该发明公开了一种基于局部像素值的液晶屏缺陷检测方法,涉及一种针对液晶屏像素缺陷的自动检测方法,特别是针对手机屏和平板屏的像素缺陷检测。该方法通过采集液晶屏清晰图像,将采集到的图像进行灰度等处理,然后对灰度图像分别进行列投影和行投影,根据投影的极小值,将最开始获取的图像划分为网状的像素块图像,再将整个图像划分为多个区域,每个区域包含多个像素块,针对各区域根据各像素块灰度与该区域平均灰度的差距检测出有缺陷的像素块;从而具有能同时检测多种像素缺陷,检测准确度高,速度快的效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 局部 像素 液晶屏 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种基于局部像素值的液晶屏缺陷检测方法,该方法包括以下步骤:步骤1:采集整个液晶屏清晰的像素图像;步骤2:对步骤1中的图像进行灰度化处理,转化为灰度图像;步骤3:对步骤2中的灰度图像进行傅里叶正变换,得到灰度图像的二维频谱图;步骤4:通过巴斯特沃高通滤波器滤除步骤3中二维频谱图的低频部分,使图像细节得到增强,再进行傅里叶反变换得到时域图;步骤5:对步骤4中的时域图分别进行行投影和列投影,并分别求取行投影和列投影后的极小值;步骤6:获取步骤5中行投影和列投影后相邻极小值的距离,并求取行投影和列投影后相邻极小值的平均距离;步骤7:根据行投影和列投影的相邻极小值的平均距离及极小值的位置,将步骤1的图像分割为网状的像素块图像;步骤8:将步骤7的网状图像划分为多个局部小区域,每个局部小区域包含多个像素块;步骤9:计算步骤8中局部小区域内的每个像素块的像素值;步骤10:利用步骤9计算的局部小区域中各像素块的像素值,采用曲面拟合计算出每个像素块的像素拟合值;步骤11:将步骤10求得的各像素块的像素拟合值与步骤9求得的对应像素块的实际像素值做差并取绝对值,获得各像素块拟合差值;步骤12:对步骤11计算的各像素块拟合差值求平均,将该平均值乘以一定倍数作为判定像素块是否为缺陷的阈值;步骤13:将步骤11计算的局部拟合差值与步骤12计算的平均值作差,如果差值结果大于阈值则该像素块判定为缺陷像素块,否则为正常像素块;步骤14:按照步骤9至步骤13的相同方法检测下一个局部小区域是否存在缺陷像素块;步骤15:如果所有局部小区域都没有缺陷则被检测液晶屏就无缺陷,当检测到有局部小区域存在缺陷,则该液晶屏就是有缺陷,停止该液晶屏的检测。
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