[发明专利]用于确定发光元件阵列芯片的缺陷的图像形成装置有效
| 申请号： | 201510395275.4 | 申请日： | 2015-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN105269979B | 公开（公告）日： | 2018-06-08 |
| 发明（设计）人： | 金寿焕 | 申请（专利权）人： | 爱思打印解决方案有限公司 |
| 主分类号： | B41J2/435 | 分类号： | B41J2/435 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邵亚丽;李琳 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供了一种图像形成装置，包括：多个发光元件阵列芯片，包括发光元件阵列和转移元件阵列；以及控制驱动器，其向所述多个发光元件阵列芯片施加信号。所述控制驱动器包括测量从所述多个发光元件阵列芯片输出的信号的检验端子，并且所述控制驱动器通过分析在检验端子处测量的信号来确定所述多个发光元件阵列芯片中的任何一个是否有缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 发光元件阵列 控制驱动器 芯片 图像形成装置 测量 芯片施加 转移元件 检验 输出 分析 | ||
【主权项】：
一种图像形成装置，包括：多个发光元件阵列芯片，包括发光元件阵列和转移元件阵列；以及控制驱动器，其向所述多个发光元件阵列芯片施加信号并且包括测量从所述多个发光元件阵列芯片输出的信号的检验端子；电阻器，连接在所述发光元件阵列的数据信号输入端子和所述发光元件阵列的数据线之间；比较单元，连接在检验端子和所述发光元件阵列的数据线之间，将阈值与从所述数据线测量的电压进行比较，并且向所述检验端子输出比较的结果，其中，所述控制驱动器通过分析在所述检验端子处测量的信号来确定所述多个发光元件阵列芯片中的任何一个是否有缺陷。
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