[发明专利]一种履带式X光检测设备及物料分选装置在审
申请号: | 201510395623.8 | 申请日: | 2015-07-06 |
公开(公告)号: | CN104923486A | 公开(公告)日: | 2015-09-23 |
发明(设计)人: | 陈原;刘宝莹;张昔峰;杨逃;张凯;李小哲 | 申请(专利权)人: | 合肥美亚光电技术股份有限公司 |
主分类号: | B07B13/14 | 分类号: | B07B13/14;B07B13/00;G01N23/04 |
代理公司: | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 | 代理人: | 丁瑞瑞 |
地址: | 230022 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明提供一种履带式X光检测设备,包括X光射源(1)、探测器(2)、处理器、履带(10)以及剔除装置(20),所述X光射源(1)以及探测器(2)分别对立设置在履带(10)的两侧,所述探测器(2)距履带(10)的起始端的水平距离与探测器(2)距履带(10)的末端的水平距离的比等于或者大于1。本发明还提供一种物料分选装置。本发明提供的设备具有如下优点:增加了前端履带加速长度,使物料运行平稳以后才检测,从检测视点到剔除装置这段距离内,才不会发生偏移,或者是减少发生偏移,保证剔除异物的精准性,且物料的平稳能保证图像的清晰度,更利于识别,最终反映到剔除精度的提高。 | ||
搜索关键词: | 一种 履带式 检测 设备 物料 分选 装置 | ||
【主权项】:
一种履带式X光检测设备,包括X光射源(1)、探测器(2)、处理器、履带(10)以及剔除装置(20),所述X光射源(1)以及探测器(2)分别对立设置在履带(10)的两侧,其特征在于:所述探测器(2)距履带(10)的起始端的水平距离与探测器(2)距履带(10)的末端的水平距离的比等于或者大于1。
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