[发明专利]半导体装置、制造半导体装置的方法及固态成像设备有效

专利信息
申请号: 201510397013.1 申请日: 2011-01-21
公开(公告)号: CN105070731B 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: 田谷圭司 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 赵国荣
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明的实施例提供一种半导体装置、制造半导体装置的方法及固态成像设备。该半导体装置包括:栅极电极,形成在基板上,该栅极电极和该基板之间具有栅极绝缘层;绝缘层,具有能够进行硅化物阻挡的特性和厚度,形成在该基板的第一区域中以覆盖该栅极电极;侧壁,在该栅极电极的侧面形成为至少部分地包括该绝缘层;第一杂质区域,在形成该绝缘层前,在该基板的该第一区域中形成的该栅极电极的周边区域中通过注入第一杂质而形成;第二杂质区域,在形成该侧壁后,在该基板的第二区域中形成的该栅极电极的该侧壁的周边区域中通过注入第二杂质而形成;以及硅化物层,形成在该基板的该第二杂质区域的表面上。
搜索关键词: 半导体 装置 制造 方法 固态 成像 设备
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括:栅极电极,形成在基板上,该栅极电极和该基板之间具有栅极绝缘层;绝缘层,具有能够进行硅化物阻挡的特性和厚度,形成在该基板的第一区域中以覆盖该栅极电极;侧壁,在该栅极电极的侧面形成为至少部分地包括该绝缘层;第一高浓度杂质区域,在形成该绝缘层前,在该基板的该第一区域中形成的该栅极电极的周边区域中通过注入第一高浓度杂质而形成;第二高浓度杂质区域,在形成该侧壁后,在该基板的第二区域中形成的该栅极电极的该侧壁的周边区域中通过注入第二高浓度杂质而形成;以及硅化物层,形成在该基板的该第二高浓度杂质区域的表面上,其中,在形成第一高浓度杂质区域的过程中,没有碰撞效应发生在不形成硅化物层的所述第一区域中。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于索尼公司,未经索尼公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510397013.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top