[发明专利]一种差分接口电路器件测试系统有效

专利信息
申请号: 201510397790.6 申请日: 2015-07-08
公开(公告)号: CN105021974B 公开(公告)日: 2018-01-30
发明(设计)人: 李盛杰 申请(专利权)人: 航天科工防御技术研究试验中心
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京风雅颂专利代理有限公司11403 代理人: 李莎,李弘
地址: 100085*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种差分接口电路器件测试系统,包括适配器,电性连接至待测差分电路与测试平台,适配器为待测差分电路与测试平台之间提供一个通信接口,适配器用于在测试平台的控制下对差分电路进行外围测试,并将外围测试结果反馈到测试平台;测试平台,电性连接至适配器,测试平台通过适配器对差分电路进行功能性测试,测试平台用于控制测试平台对差分电路进行外围测试,并对外围测试结果进行进一步分析获得功能与参数测试结果。
搜索关键词: 种差 接口 电路 器件 测试 系统
【主权项】:
一种差分接口电路器件测试系统,其特征在于,包括:适配器,所述适配器电性连接至待测差分电路与测试平台,所述适配器为待测差分电路与测试平台之间提供一个通信接口,所述适配器用于在所述测试平台的控制下对所述差分电路进行外围测试,并将所述外围测试结果反馈到所述测试平台;测试平台,所述测试平台电性连接至所述适配器,所述测试平台通过所述适配器对所述差分电路进行功能性测试,所述测试平台用于控制所述测试平台对所述差分电路进行外围测试,并对所述外围测试结果进行进一步分析获得功能与参数测试结果;所述适配器包括:外部控制电路,所述外部控制电路电性连接至所述差分电路与外围测试电路,所述外部控制电路用于在所述测试平台的控制下向所述差分电路发送指定形式的检测信号、接收所述差分电路的输出信号、并将所述差分电路的输出信号传送到所述外围测试电路;外围测试电路,所述外围测试电路电性连接至所述外部控制电路与所述测试平台,所述外围测试电路用于接收所述差分电路的输出信号并对所述差分电路的输出信号进行外围测试,同时将所述外围测试结果发送到所述测试平台;被测差分接口电路,所述被测差分接口电路电性连接至所述差分电路;所述外部控制电路电性连接至所述差分电路,为所述外部控制电路通过所述被测差分接口电路连接至所述差分电路;所述外部控制电路用于在所述测试平台的控制下向所述差分电路发送指定形式的检测信号,为所述被测差分接口电路在所述外部控制电路的直接控制、所述测试平台的间接控制下,向所述差分电路发送指定形式的检测信号;所述外部控制电路用于在所述测试平台的控制下接收所述差分电路的输出信号,为所述被测差分接口电路在所述外部控制电路的直接控制、所述测试平台的间接控制下,采集所述差分电路的输出信号。
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