[发明专利]一种平行四边形LED芯片的测试方法有效
| 申请号： | 201510399895.5 | 申请日： | 2015-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN104965163B | 公开（公告）日： | 2018-03-16 |
| 发明（设计）人： | 林潇雄;邱树添;林素慧;彭康伟;许圣贤 | 申请（专利权）人： | 厦门市三安光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 361009 福建省厦*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 一种平行四边形LED半导体芯片的测试方法，其特征在于所用平行四边形LED芯片的内角为特定角度，测试机拥有两组或多组测试针，即为多组测试模组，可同时测试特定的两排或多排芯片，避免了测试数据无法逐一对应或者测试系统无法正确找到芯片的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 平行四边形 led 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种平行四边形LED芯片的测试方法，其特征在于：所述平行四边形LED芯片包括若干个待测芯片单元，采用至少包括两组探针模块的测试机对所述待测芯片单元进行光电特性测试，其探针模块同时测试至少两个相邻的芯片单元，从而使得测试机在直角坐标系中进行逐行或/和逐列测试时，所述芯片单元的光电特性参数与芯片单元的中心点坐标位置逐一对应。
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