[发明专利]一种特征切片薄互层分析法有效
| 申请号： | 201510401127.9 | 申请日： | 2015-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN104991275B | 公开（公告）日： | 2018-03-09 |
| 发明（设计）人： | 刘力辉 | 申请（专利权）人： | 北京诺克斯达石油科技有限公司 |
| 主分类号： | G01V1/30 | 分类号： | G01V1/30 |
| 代理公司： | 北京汇信合知识产权代理有限公司11335 | 代理人： | 王杰 |
| 地址： | 100096 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种特征切片薄互层分析法，包括步骤1，在地震剖面上提取连续地层切片；步骤2，对连续地层切片进行预处理；步骤3，利用同相法分析出砂体的个数、砂体的展布范围和砂体的叠置关系；步骤4，在某个确定砂体的展布范围内，利用特征切片零值法确定该砂体的特征切片位置，确定该砂体的视厚度；步骤5，步骤4遍历每个确定的砂体；步骤6，利用特征切片的视厚度计算出所有砂体的真实时间厚度。本发明的有益效果以‑90度地震连续切片研究为核心，分析过程中只需要地震振幅本身信息，直接有效的预测砂体，避免了如提频、时频分析等方法介入而带来的误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 特征 切片 薄互层 分析 | ||
【主权项】：
一种特征切片薄互层分析法，其特征在于，包括：步骤1，在地震剖面上提取连续地层切片；步骤2，对所述连续地层切片进行预处理，利用时窗属性制作1—0蒙版，给定一个门槛值，将砂体河道以外的地震响应振幅值归零，避免特征曲线统计过程中的砂体响应之外的干扰；步骤3，利用同相法分析出砂体的个数、砂体的展布范围和砂体的叠置关系；步骤4，在某个确定砂体的展布范围内，利用特征切片零值法确定该砂体的特征切片位置，确定该砂体的视厚度；步骤5，判断是否为最后一个砂体，如果是最后一个砂体，则进行下一步，如果不是最后一个砂体，则重复上一步骤；步骤6，利用砂体的特征切片的视厚度计算出所有砂体的真实时间厚度。
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