[发明专利]一种具有替换行或列的MRAM芯片及替换、读写方法在审

专利信息
申请号: 201510405588.3 申请日: 2015-07-10
公开(公告)号: CN105609129A 公开(公告)日: 2016-05-25
发明(设计)人: 戴瑾 申请(专利权)人: 上海磁宇信息科技有限公司
主分类号: G11C11/16 分类号: G11C11/16
代理公司: 上海容慧专利代理事务所(普通合伙) 31287 代理人: 于晓菁
地址: 201800 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种MRAM芯片,包括一个或多个由MRAM存储单元组成的阵列,每个阵列与控制电路连接,控制电路包括行地址解码器、列地址解码器、读写控制器以及输入输出控制,每个阵列包括多个替换行或列,替换行或列用于替换具有坏MRAM存储单元的行或列。本发明提供上述MRAM芯片的替换、读写方法。本发明提供的具有替换行或列的MRAM芯片及替换、读写方法,使用替换行或列来替换具有坏MRAM存储单元的行或列,能够在相同的坏存储单元概率下,大幅度提高MRAM芯片的合格率,从而降低MRAM芯片的成本。
搜索关键词: 一种 具有 替换 mram 芯片 读写 方法
【主权项】:
一种MRAM芯片,包括一个或多个由MRAM存储单元组成的阵列,每个阵列与控制电路连接,所述控制电路包括行地址解码器、列地址解码器、读写控制器以及输入输出控制,其特征在于,每个所述阵列包括多个替换行或列,所述替换行或列用于替换具有坏MRAM存储单元的行或列。
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