[发明专利]TFT基板的制作方法及制得的TFT基板在审
申请号: | 201510420705.3 | 申请日: | 2015-07-16 |
公开(公告)号: | CN105070724A | 公开(公告)日: | 2015-11-18 |
发明(设计)人: | 周星宇;吴元均 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L29/66;H01L29/423;H01L29/786 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种TFT基板的制作方法及制得的TFT基板,该方法采用固相结晶技术制备低温多晶硅层,与准分子激光晶化技术相比,更加节省成本,并且形成的晶粒均一性更好;同时引入双栅极结构,加强了栅极对沟道的控制,增大薄膜晶体管的开电流,减小关电流,抑制翘曲效应,降低阈值电压和亚阈值斜率,提高薄膜晶体管的驱动能力,同时顶栅极还可以起到遮光作用,减少沟道光致漏电现象的发生。本发明提供的一种TFT基板,其低温多晶硅层采用固相结晶方法制备,生产成本较低,并且该TFT基板还具有双栅极结构,使得薄膜晶体管的电性较好,驱动能力强,且不容易发生沟道光致漏电现象。 | ||
搜索关键词: | tft 制作方法 基板 | ||
【主权项】:
一种TFT基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供一基板(1),对所述基板(1)进行清洗与预烘烤后,在所述基板(1)上沉积一缓冲层(2);步骤2、在所述缓冲层(2)上沉积第一金属层,并对该第一金属层进行图案化处理,得到底栅极(3);步骤3、在所述底栅极(3)、及缓冲层(2)上沉积栅极绝缘层(4),在所述栅极绝缘层(4)上沉积非晶硅层(5);步骤4、对所述非晶硅层(5)进行P型掺杂,得到位于上方的P型掺杂非晶硅层(52)、及位于所述P型掺杂非晶硅层(52)下方的未掺杂非晶硅层(51);步骤5、采用固相结晶方法将所述未掺杂非晶硅层(51)、及P型掺杂非晶硅层(52)转化为未掺杂低温多晶硅层(61)、及P型掺杂低温多晶硅层(62),采用一道光刻制程对所述未掺杂低温多晶硅层(61)、及P型掺杂低温多晶硅层(62)进行图案化处理,形成低温多晶硅岛(6);步骤6、在所述低温多晶硅岛(6)、及栅极绝缘层(4)上方沉积第二金属层(7),在所述低温多晶硅岛(6)的未掺杂低温多晶硅层(61)上定义出对应于所述底栅极(3)上方的沟道区(613),采用一道光刻制程对该第二金属层(7)、及低温多晶硅岛(6)进行图案化处理,去除位于所述沟道区(613)上方的P型掺杂低温多晶硅层(62)、及第二金属层(7),从而形成对应所述沟道区(613)两侧的源极(71)与漏极(72)、及第一P型掺杂低温多晶硅层(621)与第二P型掺杂低温多晶硅层(622);所述源、漏极(71、72)分别与所述第一、第二P型掺杂低温多晶硅层(621、622)相接触;步骤7、在所述源、漏极(71、72)、沟道区(613)、及栅极绝缘层(4)上沉积钝化层(8);步骤8、在所述钝化层(8)上沉积第三金属层,并对该第三金属层进行图案化处理,得到对应所述底栅极(3)的顶栅极(9)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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