[发明专利]一种晶闸管芯片的低温结合方法有效
申请号: | 201510430034.9 | 申请日: | 2015-07-21 |
公开(公告)号: | CN105118789B | 公开(公告)日: | 2018-04-24 |
发明(设计)人: | 王大江;王森彪;徐艳艳;李建忠 | 申请(专利权)人: | 宁波芯科电力半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60 |
代理公司: | 宁波奥圣专利代理事务所(普通合伙)33226 | 代理人: | 周珏 |
地址: | 315400 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种晶闸管芯片的低温结合方法,其先取单晶硅片、铝硅合金片、钼片;然后使钼片的中心处产生预设形变量的形变;接着将单晶硅片、铝硅合金片和形变的钼片依次放入石墨模具中,放入时要求形变的钼片的凹面正对铝硅合金片;再将石墨模具放入真空高温炉中,使铝硅合金片熔化,单晶硅片结合到钼片上形成近乎平面的晶闸管芯片;优点是将铝片改为铝硅合金片,而铝硅合金片的熔点更低,因此能够将结合温度降低至580~600℃,从而能够减少得到的晶闸管芯片的形变;预先使钼片中心产生预设形变量的形变,这样结合后钼片产生的热膨胀变形与预先压制的变形互相抵消,从而使得最终得到的晶闸管芯片近乎平面,能极大地减少安装时硅片被压断裂的可能。 | ||
搜索关键词: | 一种 晶闸管 芯片 低温 结合 方法 | ||
【主权项】:
一种晶闸管芯片的低温结合方法,其特征在于包括如下步骤:①选取高平面度的单晶硅片、含硅量为9.7%~13.7%的铝硅合金片、钼片,其中,铝硅合金片用作金属粘接剂;②对钼片进行预处理,使其中心处产生预设形变量的形变;所述的步骤②中对钼片进行预处理即为利用微凸的模具对钼片进行冲压;③将单晶硅片、铝硅合金片和形变的钼片依次放入石墨模具中,放入时要求形变的钼片的凹面正对铝硅合金片;④将装有单晶硅片、铝硅合金片和形变的钼片的石墨模具放入真空高温炉中,在真空度高于3×10‑3pa,且温度在580~600℃的条件下,使铝硅合金片熔化,单晶硅片结合到钼片上形成近乎平面的晶闸管芯片;所述的石墨模具的四个侧壁上均开设有用于增加热量传导、减少所述的石墨模具内外温差的侧壁通孔。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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