[发明专利]一种非接触式激光测径仪及其测试方法在审

专利信息
申请号: 201510431884.0 申请日: 2015-07-22
公开(公告)号: CN105066891A 公开(公告)日: 2015-11-18
发明(设计)人: 何邦贵;杨智皓;田倩如 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: G01B11/08 分类号: G01B11/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 650093 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明涉及一种非接触式激光测径仪及其测试方法,属烟草设备领域。包括半导体激光发射器、电机、八棱镜、半平面透镜Ⅰ、滤棒通道、半平面透镜Ⅱ、光电接收器;滤棒通道周围安装有四组光电测径传感器,四组光电测径传感器的结构均相同。本发明能在滤棒成型机生产滤棒的同时在线实时检测滤棒直径;能检测高速通过测径仪的滤棒的直径;对于滤棒直径检测的精度比当前滤棒测径仪的检测精度高;体积较小,能安装在滤棒成型机滤棒出口处的狭小空间内;有清洁喷嘴,能够对测径仪进行自净,能有效消除滤棒附着的胶水积结堵塞导向孔所造成的测量误差;能将测量的滤棒的直径值实时反馈给滤棒成型机,以此实时调节滤棒成型机生产滤棒的过程。
搜索关键词: 一种 接触 激光 测径仪 及其 测试 方法
【主权项】:
一种非接触式激光测径仪,其特征在于:包括半导体激光发射器(1)、电机(2)、八棱镜(3)、半平面透镜Ⅰ(4)、滤棒通道(5)、半平面透镜Ⅱ(6)、光电接收器(7);所述滤棒通道(5)周围安装有四组光电测径传感器,四组光电测径传感器的结构均相同,其中每一组光电测径传感器均包括半导体激光发射器(1)、电机(2)、八棱镜(3)、半平面透镜Ⅰ(4)、半平面透镜Ⅱ(6)、光电接收器(7);所述电机(2)与八棱镜(3)相连带动八棱镜(3)转动,半导体激光发射器(1)发射的激光直射到转动的八棱镜(3)上,八棱镜(3)再把激光折射到半平面透镜Ⅰ(4)上通过半平面透镜Ⅰ(4)形成一组平行光平行的直射过滤棒通道(5)照射到半平面透镜Ⅱ(6)上,穿过半平面透镜Ⅱ(6)的光被光电接收器(7)接收,通过光电接收器(7)将接收到的光信号转化成数字信号。
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