[发明专利]一种二维纳米SnSe2晶体材料的制备方法有效

专利信息
申请号: 201510437401.8 申请日: 2015-07-23
公开(公告)号: CN104962990B 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: 张骐;周兴;甘霖;翟天佑 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: C30B25/00 分类号: C30B25/00;C30B29/46;C30B29/64
代理公司: 华中科技大学专利中心42201 代理人: 梁鹏
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种二维纳米SnSe2晶体材料的制备方法,采用化学气相沉积法用单质硒和卤化锡在衬底上沉积所需厚度的SnSe2晶体;其中,沉积设备为水平管式炉,顺序设有上游低温区、中心温区以及下游低温区,所述单质硒和卤化锡分别独立但紧靠放置于上游低温区,所述衬底放置于下游低温区;利用不同温区的温度差,单质硒蒸汽和卤化锡蒸汽形成于上游低温区;两者反应生成SnSe2,并通过沉积载气带入下游温区,在衬底上沉积成为二维纳米SnSe2晶体材料。利用本发明方法,制备出了厚度均匀形态一致的二维纳米SnSe2晶体材料,厚度为3~10个原子层(1~3层SnSe2的厚度),在电子器件的应用中具有广阔前景。
搜索关键词: 一种 二维 纳米 snse sub 晶体 材料 制备 方法
【主权项】:
一种二维纳米SnSe2晶体材料的制备方法,其特征在于,反应区域在水平方向分为上游低温区、中心温区以及下游低温区;通过控制中心温区的温度,以及利用中心温区与上下游低温区的温差,使硒源和锡源蒸汽形成于上游低温区,并通过载气先带入中心温区反应生成SnSe2,再带入下游低温区在衬底上沉积成为厚度为3~10个原子层的二维纳米SnSe2晶体材料;所述硒源和锡源分别为单质硒和卤化锡,分别独立放置于上游低温区;所述载气由体积比为10%~30%的 H2以及体积比为70%~90%的惰性气体或 N2组成。
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