[发明专利]结构体、其制造方法和塔尔博干涉仪有效

专利信息
申请号: 201510442291.4 申请日: 2015-07-24
公开(公告)号: CN105280263B 公开(公告)日: 2019-03-26
发明(设计)人: 手岛隆行;冈有纱 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G21K1/06 分类号: G21K1/06;H05H1/46;G01N23/04
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 石宝忠
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 结构体,其包括:具有多个凹部的硅基板,每个凹部具有底部和侧壁;硅化物层,每个硅化物层与凹部的底部接触;和包括金属部的金属结构体,每个金属部设置在凹部中并且与硅化物层接触。通过硅基板将硅化物层彼此电连接。
搜索关键词: 结构 制造 方法 塔尔博 干涉仪
【主权项】:
1.X射线塔尔博干涉仪,包括:能够将来自X射线源的X射线辐射衍射以形成干涉图案的X射线衍射格栅;能够将形成干涉图案的X射线辐射部分地屏蔽的X射线屏蔽格栅,和能够检测来自X射线屏蔽格栅的X射线辐射的X射线检测器,其中X射线屏蔽格栅包括:具有多个凹部的硅基板,每个凹部具有底部和侧壁;硅化物层,每个硅化物层设置在凹部中并且与凹部的底部接触;和包括金属部的金属结构体,其各自设置在凹部中。
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