[发明专利]一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统

摘要

本发明提供了一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，包括数控系统和主机B轴，所述主机B轴的一侧安装有测量块，所述测量块上依次连接有高精度圆光栅、数显变送器和上位机，所述上位机与数控系统连接，所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出补偿数据给数控系统的输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块，其测量补偿步骤如下：所述上位机参数设定，启动主机B轴，同时启动高精度圆光栅测量来检测主机B轴的精度，通过数显变送器将测量数据送入上位机；上位机输出补偿数据给数控系统，并生成和显示测量及数据补偿报告；数控系统根据补偿数据调整主机B轴。

主权项

一种用于可转位数控周边磨床B轴精度测量的系统，包括数控系统和主机B轴，其特征在于：所述主机B轴的一侧安装有测量块，所述测量块上依次连接有高精度圆光栅、数显变送器和上位机，所述上位机与数控系统连接，所述上位机上设置有预输入模块、测量报告生成模块和输出补偿数据给数控系统的输出系统补偿模块；所述预输入模块包括目标设定模块、采集数据启动模块和自动数据采集设定模块，其测量补偿步骤如下：（1）所述上位机通过目标设定模块设定测量块的测量点的位置和个数，通过采集数据启动模块设定测量次数及测量方向，通过自动数据采集设定模块设定数据采集方式；（2）启动主机B轴，同时启动高精度圆光栅测量测量块各个测量点来检测主机B轴的精度，通过数显变送器将测量数据送入上位机；（3）上位机通过输出系统补偿模块进行处理后输出补偿数据给数控系统，并通过测量报告生成模块生成测量及数据补偿报告在上位机中显示；（4）数控系统根据补偿数据调整主机B轴。