[发明专利]一种AMOLED面板测试电路有效

专利信息
申请号: 201510443539.9 申请日: 2015-07-24
公开(公告)号: CN104992651B 公开(公告)日: 2018-09-07
发明(设计)人: 周兴雨 申请(专利权)人: 上海和辉光电有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 俞涤炯
地址: 201506 上海市金山区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及电子电路设计技术领域,尤其涉及一种AMOLED面板测试电路,通过将第二测试单元与第一测试单元以及数据线输出单元集成在一起,并通过晶体管开关的打开和关闭分别实现面板第一测试单元和第二测试单元的测试,从而避免了由于当前技术中测试电路不集成,其中一个测试电路要要绕道面板的尾端而导致的走线阻抗很大的问题,进而增加了检出率,节省了成本。
搜索关键词: 一种 amoled 面板 测试 电路
【主权项】:
1.一种AMOLED面板测试电路,其特征在于,所述AMOLED测试电路包括:数据线输出单元,包括若干数据线输出模块,每个所述数据线输出模块均包括若干组数据线对,每对所述数据线的一端相互耦合,每对所述数据线中未与其他所述数据线耦合在一起的一端用于提供输出数据;第一测试单元,包括若干子控制单元,每个所述子控制单元均包括若干条支路,每条所述支路均与所述数据线输出模块中的一对所述数据线唯一对应,所述支路连接到与该支路对应的所述数据线对的相互耦合在一起的一端上;以及第二测试单元,包括若干条输入信号线,每条所述输入信号线与所述数据线输出模块中的一对所述数据线唯一对应,所述输入信号线连接到与该输入信号线对应的所述数据线对的相互耦合在一起的一端;所述数据线输出单元中的相邻两个所述数据线输出模块的相互耦合在一起的一端通过一晶体管连接,且所述晶体管位于第二测试单元中;在所述第一测试单元测试数据线输出单元的工作阶段,所述第二测试单元的输入信号线的输出无效。
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