[发明专利]一种铜铟镓硒薄膜太阳电池无镉缓冲层的原子层沉积制备方法有效
申请号: | 201510444958.4 | 申请日: | 2015-07-27 |
公开(公告)号: | CN105118875B | 公开(公告)日: | 2023-07-07 |
发明(设计)人: | 杨雯;赵恒利;杨培志;段良飞;李学铭 | 申请(专利权)人: | 云南师范大学 |
主分类号: | H01L31/0296 | 分类号: | H01L31/0296;H01L31/0749;H01L31/0445 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 650500 云*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: |
本发明公开了一种铜铟镓硒薄膜太阳电池无镉缓冲层的沉积方法,该方法的特征是采用二乙基锌(DEZn)、双环戊二茂镁(MgCP |
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搜索关键词: | 一种 铜铟镓硒 薄膜 太阳电池 缓冲 原子 沉积 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种铜铟镓硒薄膜太阳电池无镉缓冲层的沉积方法,其制备步骤包括:在普通钠钙玻璃衬底上依次制备钼背电极和铜铟镓硒光吸收层,形成样片,将样片放入原子层沉积系统的反应室中,抽反应室真空到0.5pa以下,设置反应腔室温度为150‑250℃,采用二乙基锌(DEZn)、双环戊二茂镁(MgCP2)、H2S作为Zn、Mg和S的前躯体源,使用高纯度N2作为载运和清洗气体,携带气体流量为100‑300sccm,源瓶温度设置为室温到100℃,分别设置ZnS和MgS一个生长周期的脉冲时间为10‑50ms,等待时间为3‑10s,生长300‑500个周期的薄膜,可得到厚度为40‑70nm的Zn1‑xMgxS薄膜,薄膜的Mg组分通过调节ZnS和MgS的生长周期数来实现。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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