[发明专利]用于测试集成电路的方法和设备有效
| 申请号： | 201510445432.8 | 申请日： | 2015-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN106291313B | 公开（公告）日： | 2021-06-11 |
| 发明（设计）人： | 桑伟伟;张旺根 | 申请（专利权）人： | 恩智浦美国有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 秦晨 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于测试集成电路的方法和设备。一种集成电路(IC)，具有用于存储数据的存储器，并且还具有连接到存储器用来测试存储器的操作的存储器内置自测试(MBIST)单元。测试接口提供测试数据。IC的触发器连接在一起成为至少一个串行扫描链。测试接口单元接收包括MBIST配置数据的测试数据。MBIST单元，在第一测试模式中，基于MBIST配置数据与采用扫描链的扫描测试至少部分并行地测试存储器。因此，存储器和逻辑电路能并行地被测试。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 集成电路 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种集成电路，包括：用于存储数据的存储器；耦接到存储器用于测试存储器的操作的存储器内置自测试(MBIST)单元；用于传输测试数据的测试接口；以及连接在一起成为至少一个串行扫描链的多个触发器；其中所述测试接口单元被配置为接收包括MBIST配置数据的测试数据，并且其中所述MBIST单元被配置为，在第一模式中，基于所述MBIST配置数据与采用所述至少一个扫描链的扫描测试至少部分并行地执行所述存储器的测试。
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