[发明专利]一种基于局部区域的近红外光谱信号标准正态校正方法有效

专利信息
申请号: 201510447038.8 申请日: 2015-07-27
公开(公告)号: CN104990895B 公开(公告)日: 2017-10-31
发明(设计)人: 毕一鸣;储国海;周国俊;夏琛;吴继忠;袁凯龙;史春云;夏骏 申请(专利权)人: 浙江中烟工业有限责任公司
主分类号: G01N21/359 分类号: G01N21/359
代理公司: 杭州丰禾专利事务所有限公司33214 代理人: 王从友
地址: 310008 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种基于局部区域的近红外光谱信号标准正态校正方法,步骤如下1)利用近红外光谱仪采集待测样品的近红外光谱数据;2)采用等分的方式对全谱区域进行分隔,将全谱分为N等分,根据N数值的不同进行多次划分;3)对每一次划分,计算每个子波段的校正参数,并利用算得的参数对该谱段进行校正4)对每一次划分,对校正后的全谱进行PLS建模,并计算模型的交叉验证根均方误差;5)确定最优的分隔数Nopt;6)确定最优的训练集模型;7)对测试集光谱进行Nopt等分,对每个子波段进行校正,带入步骤6)中的模型进行感兴趣成分含量的预测。本发明可以有效的抑制近红外光谱中的散射等干扰因素,提高了模型的预测精度。
搜索关键词: 一种 基于 局部 区域 红外 光谱 信号 标准 校正 方法
【主权项】:
一种基于局部区域的近红外光谱信号标准正态校正方法,其特征在于该方法包括以下的步骤:1)利用近红外光谱仪采集待测样品的近红外光谱数据,同时利用其它方法测得待测样品感兴趣成分的含量;2)采用等分的方式对全谱区域进行分隔,将全谱分为N等分,根据N数值的不同进行多次划分;N的最大值为10,即步骤2)中将全谱分别等分为2‑10个子波段;3)对每一次划分,计算每个子波段的校正参数,并利用算得的参数对子波段进行校正,每个子波段的校正系数分别由该波段的均值和标准差确定;其中mij为第i个样本光谱Xi在j子段的均值, Sij为第i个样本光谱Xi在j子段的标准差;步骤3)中的校正公式为;;4)对每一次划分,对校正后的全谱进行PLS建模,PLS算法为非线性迭代偏最小二乘算法,并计算模型的交叉验证根均方误差,RMSECV的计算方法为5折交叉验证;5)确定最优的分隔数Nopt,其定义为最小RMSECV所对应的分隔数;6)确定最优的训练集模型,其定义为最小RMSECV所对应的PLS模型;7)对测试集光谱进行Nopt等分,对每个子波段进行校正,带入步骤6)中的模型进行感兴趣成分含量的预测。
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