[发明专利]用于改进的相位基准性能的利用自适应相移的双正交在审

专利信息
申请号: 201510453820.0 申请日: 2015-07-29
公开(公告)号: CN105319523A 公开(公告)日: 2016-02-10
发明(设计)人: J.P.P.维姆;K.M.恩根哈德特;L.J.多博斯 申请(专利权)人: 特克特朗尼克公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01R25/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 马红梅;刘春元
地址: 美国俄*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及用于改进的相位基准性能的利用自适应相移的双正交。一种用于校正测试和测量仪器中的定时误差的方法。该方法包括在四个采样器中的每一个处接收时钟信号。在第一采样器处以第一相位对第一时钟信号采样,在第二采样器处以从第一相位偏移90度的第二相位对第二时钟信号采样,在第三采样器处以从第一相位偏移45度的第三相位对第三时钟信号采样,并且在第四采样器处以从第三相位偏移90度的第四相位对第四时钟信号采样。将来自采样器的输出中的每一个数字化并且从数字化输出基于数字化输出计算定时校正。
搜索关键词: 用于 改进 相位 基准 性能 利用 自适应 相移 正交
【主权项】:
一种用于校正测试和测量仪器中的定时误差的方法,包括:接收时钟信号;将时钟信号拆分成第一时钟信号、第二时钟信号、第三时钟信号和第四时钟信号;将第一时钟信号路由至第一采样器,将第二时钟信号路由至第二采样器,将第三时钟信号路由至第三采样器,并且将第四时钟信号路由至第四采样器;在第一采样器处以第一相位对第一时钟信号采样,在第二采样器处以从第一相位偏移90度的第二相位对第二时钟信号采样,在第三采样器处以从第一相位偏移45度的第三相位对第三时钟信号采样,并且在第四采样器处以从第三相位偏移90度的第四相位对第四时钟信号采样;将来自采样器的输出中的每一个数字化;以及从数字化输出基于数字化输出计算定时校正。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于特克特朗尼克公司,未经特克特朗尼克公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510453820.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top