[发明专利]一种利用小波计算导数检测谱特征峰的方法有效
| 申请号： | 201510468445.7 | 申请日： | 2015-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN105067650B | 公开（公告）日： | 2018-01-02 |
| 发明（设计）人： | 王玲;赵奉奎;王汉森;王爱民 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G06F19/00 |
| 代理公司： | 江苏永衡昭辉律师事务所32250 | 代理人： | 王斌 |
| 地址： | 210096*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种利用小波计算导数检测谱特征峰的方法，利用高斯函数的一阶导数和四阶导数作为小波基函数分别对光谱进行连续小波变换，从gaus4的小波计算四阶导数谱上提取最大点位置得到原谱峰峰位，从gaus1的小波计算一阶导数谱上提取极值点位置得到原谱峰拐点位置，对特征点的获取均是通过对极值点的检测，相比于对过零点的计算更加方便准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 计算 导数 检测 特征 方法 | ||
【主权项】：
一种利用小波计算导数检测谱特征峰的方法，其特征在于包括如下步骤：1)获取X射线荧光光谱；2)计算高斯函数的四阶导数，计算结果记为gaus4，并对其进行归一化，归一化后||gau4||2＝1；3)利用gaus4作为小波基函数在合适的尺度上对光谱进行连续小波变换，将小波变换系数乘以系数1或‑1，得到谱方向与光谱四阶导数谱方向一致的小波计算四阶导数；4)求取小波计算四阶导数谱在原始特征峰处的最大值的位置，得到光谱特征峰的峰位；5)计算高斯函数的一阶导数，计算结果记为gaus1，并对其进行归一化，归一化后||gau1||2＝1；6)利用gaus1作为小波基函数在合适的尺度上对光谱进行连续小波变换，将小波变换系数乘以系数‑1，得到谱方向与光谱一阶导数谱方向一致的小波计算一阶导数；7)求取小波计算一阶导数谱在原始谱峰处的最大值和最小值的位置，分别得到光谱特征峰峰位左侧和右侧的拐点位置，分别记为xl和xr，拐点峰宽为2σ＝xr‑xl。
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