[发明专利]用于磁共振成像的方法在审
申请号: | 201510477943.8 | 申请日: | 2015-06-12 |
公开(公告)号: | CN105167773A | 公开(公告)日: | 2015-12-23 |
发明(设计)人: | S·比伯;D·尼德洛纳;A·施密特;M·维斯特 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055;G01R33/38 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 熊雪梅 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及一种用于磁共振成像的方法和一种磁共振设备。为了能够实现有效地计算用于磁共振成像的匀场设置,建议用于借助磁共振设备对检查对象进行磁共振成像的方法包括如下方法步骤:借助磁共振设备采集检查对象的第一磁共振图像数据;将该第一磁共振图像数据分割为至少两种材料类型;借助分割后的第一磁共振图像数据和借助该至少两种材料类型的磁导率计算B0图;借助所计算的B0图计算匀场设置;借助磁共振设备采集检查对象的第二磁共振图像数据,其中,在使用所计算的匀场设置的条件下采集第二磁共振图像数据。 | ||
搜索关键词: | 用于 磁共振 成像 方法 | ||
【主权项】:
一种用于借助磁共振设备对检查对象进行磁共振成像的方法,包括如下方法步骤:‑借助磁共振设备采集检查对象的第一磁共振图像数据,‑将该第一磁共振图像数据分割为至少两种材料类型,‑根据分割后的第一磁共振图像数据和根据该至少两种材料类型的磁导率计算B0图,‑根据所计算的B0图计算匀场设置,‑借助磁共振设备采集检查对象的第二磁共振图像数据,其中,在使用所计算的匀场设置的条件下采集第二磁共振图像数据。
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