[发明专利]低温多晶硅薄膜晶体管及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201510488835.0 申请日: 2015-08-11
公开(公告)号: CN105140294A 公开(公告)日: 2015-12-09
发明(设计)人: 陈归;赵莽 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/336
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 430079 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开一种低温多晶硅薄膜晶体管及其制造方法,所述低温多晶硅薄膜晶体管包含一基板、一遮光层、一缓冲层、一多晶硅层、一栅极绝缘层、一栅极及至少一围栅通道。本发明通过围栅通道的设计,可有效降低薄膜晶体管所产生的漏电流。
搜索关键词: 低温 多晶 薄膜晶体管 及其 制造 方法
【主权项】:
一种低温多晶硅薄膜晶体管,其特征在于:所述低温多晶硅薄膜晶体管包含:一基板;一遮光层,为金属材料且设置在所述基板上;一缓冲层,设置在所述遮光层及所述基板上;一多晶硅层,设置在所述缓冲层上;一栅极绝缘层,设置在所述多晶硅层及所述缓冲层上;一栅极,形成在所述栅极绝缘层上;及至少一围栅信道,所述围栅通道穿过所述栅极绝缘层及缓冲层,并连接在所述遮光层及所述栅极之间。
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