[发明专利]芯片上变异侦测方法和集成电路

摘要

本发明公开了一种芯片上变异侦测方法和集成电路，所述方法包括：发射暂存电路根据第一时钟输出测试数据至撷取暂存电路；撷取暂存电路，根据第二时钟，从所述发射暂存电路接收所述测试数据；以及，控制电路调整第一链的延迟组件的第一数量以及第二链的延迟组件的第二数量，使得撷取暂存电路正好能通过第二时钟撷取测试数据，并根据撷取暂存电路正好能通过所述第二时钟撷取测试数据时第一链的延迟组件的第一数量以及第二链的延迟组件的第二数量判断所述发射暂存电路和所述撷取暂存电路间的路径延迟。由此，本发明实施例可了解芯片上变异的真实情况，可为静态时序分析模型的校准提供参考。

主权项

1.一种集成电路，其特征在于，包括延迟判断电路和控制电路，其中：所述延迟判断电路，包括：发射暂存电路，用以根据第一时钟输出测试数据；撷取暂存电路，耦接至所述发射暂存电路，且用以根据第二时钟撷取所述测试数据；第一链的延迟组件，耦接至所述述发射暂存电路，用以接收来源时钟以产生所述第一时钟，其中所述第一链的延迟组件的第一数量被调整，以提供所述第一时钟至所述述发射暂存电路；以及第二链的延迟组件，耦接至所述撷取暂存电路，用以接收所述来源时钟以产生所述第二时钟，其中所述第二链的延迟组件的第二数量被调整，以提供所述第二时钟至所述撷取暂存电路；所述控制电路，耦接至所述延迟判断电路，用以调整所述第一链的延迟组件的所述第一数量以及所述第二链的延迟组件的所述第二数量，使得所述撷取暂存电路正好能通过所述第二时钟撷取所述测试数据，且用以根据所述第一链的延迟组件的所述第一数量以及所述第二链的延迟组件的所述第二数量判断所述发射暂存电路和所述撷取暂存电路间的路径延迟。