[发明专利]存储器件的快速测试电路及方法

摘要

本发明公开一种存储器件的快速测试电路及方法，其中测试电路包括：CRC校验码生成模块，对数据总线控制模块送入的数据进行CRC校验码的计算；CRC校验码生成模块内设置有写入数据CRC校验码寄存器和读取数据CRC校验码寄存器；总线接口模块，当对存储器做读操作时，该模块负责将总线上的数据采样下来，送入CRC校验码生成模块；当外部测试设备需要读取CRC校验码生成模块内部存储的CRC校验数据时，将CRC校验码送到总线，供外部测试设备读取；控制模块，负责接受测试设备的指令，开始对存储器内容进行检查，同时包括对总线接口模块及CRC校验生成模块进行控制。本发明够在较短时间内对存储器存储数据的正确性做出判断，同时提高了测试效率。

主权项

1.一种存储器件的快速测试方法，其特征在于，所述快速测试方法所基于的测试电路包括：CRC校验码生成模块，对数据总线控制模块送入的数据进行CRC校验码的计算，CRC校验码生成模块内设置有写入数据CRC校验码寄存器和读取数据CRC校验码寄存器；总线接口模块，当对存储器件做读操作时，所述总线接口模块负责将总线上的数据采样下来，送入CRC校验码生成模块；当外部测试设备需要读取CRC校验码生成模块内部存储的CRC校验数据时，将CRC校验码送到总线，供外部测试设备读取；控制模块，负责接受所述外部测试设备的指令，开始对存储器件内容进行检查，同时包括对总线接口模块及CRC校验生成模块进行控制；所述快速测试方法包括如下步骤：S101，电路复位；S102，复位后，控制模块等待所述外部测试设备发送测试命令字；S103，接收到测试命令字后，判断是否需要自动产生存储器件地址，如果需要自动产生存储器件地址则进入步骤s104，如果不需要自动产生存储器件地址则进入步骤s103a；S103a，如果不需要自动生成地址，那么从总线上采样存储器件地址并进入步骤s105；S104，按测试命令字的要求生成存储器件地址；S105，对数据总线上的数据进行采样；S106，对采样到的数据进行CRC校验码的计算；S107，判断是否已经覆盖了要求测试的存储器件空间，如果没有覆盖全，则继续进行S103、S103a、S104、S105、S106的流程，如果已经全面覆盖则进入S108；S108，判断当前进行的是写入过程还是读取过程，写入过程则进入步骤s109，读取过程则进入s110；S109，将CRC校验码存入写入数据CRC校验码寄存器；S110，将CRC校验码存入读取数据CRC校验码寄存器；S111，判断是否要求对写入数据CRC校验码和读取数据CRC校验码进行比较，如果不需要比较则进入S112，如果需要比较则进入S113；S112，等待所述外部测试设备读取CRC校验码；S113，比较写入数据CRC校验码和读取数据CRC校验码是否一致，如果一致，则进入S114，如果不一致则进入S115；S114，存储器件测试通过；S115，存储器件测试不通过。