[发明专利]TFT基板的制作方法及TFT基板结构有效

专利信息
申请号: 201510514415.5 申请日: 2015-08-20
公开(公告)号: CN105070686B 公开(公告)日: 2018-03-30
发明(设计)人: 张良芬 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L21/77 分类号: H01L21/77;H01L27/12;H01L21/22
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所44265 代理人: 林才桂
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种TFT基板的制作方法及TFT基板结构。本发明的TFT基板的制作方法,在制作非晶硅层的过程中,采用多步成膜的方式,并在每步成膜后使用硼氢化合物气体通过CVD表面处理对非晶硅薄膜进行硼离子注入,最终得到硼离子掺杂的非晶硅层,形成沟道区后无需单独对沟道区进行掺杂,有效简化了制程,降低了生产成本。本发明的TFT基板结构,沟道区在非晶硅成膜时即完成硼离子注入,无需单独进行沟道掺杂制程,制作简单,生产成本低。
搜索关键词: tft 制作方法 板结
【主权项】:
一种TFT基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供基板(1),在所述基板(1)上沉积缓冲层(2);步骤2、在所述缓冲层(2)上沉积一非晶硅薄膜(301),并在所述非晶硅薄膜(301)表面通入硼氢化合物气体,采用化学气相沉积的方法对所述非晶硅薄膜(301)进行表面处理,使得所述非晶硅薄膜(301)的表面掺杂硼离子;步骤3、重复步骤2的操作数次,得到数层表面掺杂硼离子的非晶硅薄膜(301),所述数层表面掺杂硼离子的非晶硅薄膜(301)叠加构成非晶硅层(3);步骤4、对所述非晶硅层(3)进行退火处理,去除非晶硅层(3)中掺杂的氢离子,同时使得掺杂到每层非晶硅薄膜(301)表面的硼离子均匀扩散到整个非晶硅层(3)中,实现对整个非晶硅层(3)的硼离子掺杂;步骤5、使用两道光罩对所述硼离子掺杂后的非晶硅层(3)进行两次离子注入,得到位于所述非晶硅层(3)两侧的两个N型重掺杂区(31)、位于所述非晶硅层(3)中部的硼离子掺杂沟道区(33)、及位于所述两个N型重掺杂区(31)与硼离子掺杂沟道区(33)之间的两个N型轻掺杂区(32);步骤6、在所述非晶硅层(3)上依次形成栅极绝缘层(5)、栅极(6)、层间绝缘层(7)、及源、漏极(81、82)。
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