[发明专利]TFT基板的制作方法及TFT基板结构有效
申请号: | 201510514415.5 | 申请日: | 2015-08-20 |
公开(公告)号: | CN105070686B | 公开(公告)日: | 2018-03-30 |
发明(设计)人: | 张良芬 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12;H01L21/22 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种TFT基板的制作方法及TFT基板结构。本发明的TFT基板的制作方法,在制作非晶硅层的过程中,采用多步成膜的方式,并在每步成膜后使用硼氢化合物气体通过CVD表面处理对非晶硅薄膜进行硼离子注入,最终得到硼离子掺杂的非晶硅层,形成沟道区后无需单独对沟道区进行掺杂,有效简化了制程,降低了生产成本。本发明的TFT基板结构,沟道区在非晶硅成膜时即完成硼离子注入,无需单独进行沟道掺杂制程,制作简单,生产成本低。 | ||
搜索关键词: | tft 制作方法 板结 | ||
【主权项】:
一种TFT基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供基板(1),在所述基板(1)上沉积缓冲层(2);步骤2、在所述缓冲层(2)上沉积一非晶硅薄膜(301),并在所述非晶硅薄膜(301)表面通入硼氢化合物气体,采用化学气相沉积的方法对所述非晶硅薄膜(301)进行表面处理,使得所述非晶硅薄膜(301)的表面掺杂硼离子;步骤3、重复步骤2的操作数次,得到数层表面掺杂硼离子的非晶硅薄膜(301),所述数层表面掺杂硼离子的非晶硅薄膜(301)叠加构成非晶硅层(3);步骤4、对所述非晶硅层(3)进行退火处理,去除非晶硅层(3)中掺杂的氢离子,同时使得掺杂到每层非晶硅薄膜(301)表面的硼离子均匀扩散到整个非晶硅层(3)中,实现对整个非晶硅层(3)的硼离子掺杂;步骤5、使用两道光罩对所述硼离子掺杂后的非晶硅层(3)进行两次离子注入,得到位于所述非晶硅层(3)两侧的两个N型重掺杂区(31)、位于所述非晶硅层(3)中部的硼离子掺杂沟道区(33)、及位于所述两个N型重掺杂区(31)与硼离子掺杂沟道区(33)之间的两个N型轻掺杂区(32);步骤6、在所述非晶硅层(3)上依次形成栅极绝缘层(5)、栅极(6)、层间绝缘层(7)、及源、漏极(81、82)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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