[发明专利]位置校准方法、测试电路板、样本面板和位置校准装置

摘要

本发明提供一种位置校准方法、测试电路板、样本面板和位置校准装置。所述位置校准方法用于在对待测试显示面板进行测试之前校准测试电路板和/或待测试显示面板的位置，所述校准方法包括S1、提供测试电路板，并形成至少一个第一样本金手指；S2、制作样本面板，所述样本面板包括第二金手指设置区，还包括与每个第一样本金手指对应的第二样本金手指；S3、将所述测试电路板与所述样本面板相接触；S4、检测每个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指之间是否电连接，当检测到任意一个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指之间断开时，调节测试电路板和/或所述样本面板的位置。本发明能够快速准确地校准测试电路板和待测试显示面板的位置。

主权项

一种位置校准方法，用于在对待测试显示面板进行测试之前校准测试电路板和/或待测试显示面板的位置，所述测试电路板包括第一金手指设置区，该第一金手指设置区内设置有多个第一金手指，所述待测试显示面板包括与多个第一金手指一一对应的多个第二金手指，其特征在于，所述校准方法包括：S1、提供测试电路板，并在所述测试电路板的第一金手指设置区外侧形成至少一个第一样本金手指；S2、制作样本面板，所述样本面板包括第二金手指设置区，所述样本面板还包括与每个第一样本金手指对应的第二样本金手指，并使得当每个第一样本金手指与相应的第二样本金手指对齐时，多个所述第一金手指与所述第二金手指设置区内对应于多个第二金手指的位置一一对齐；S3、将所述测试电路板与所述样本面板相接触；S4、检测每个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指之间是否电连接，当检测到任意一个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指之间断开时，调节测试电路板和/或所述样本面板的位置，直至每个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指均电连接，此时，样本面板的位置即为待测试显示面板的位置。