[发明专利]非接触式测量方法、测量设备及其测量系统有效

专利信息
申请号: 201510517999.1 申请日: 2015-08-21
公开(公告)号: CN105387847B 公开(公告)日: 2018-01-09
发明(设计)人: 周彬 申请(专利权)人: 周彬
主分类号: G01C11/12 分类号: G01C11/12
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)44280 代理人: 何青瓦
地址: 421001 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提供了一种非接触式测量方法、测量设备及其测量系统,其中,该非接触式测量方法包括非接触式测量设备利用摄像头对待成像物获取多组不同角度的图片;根据多组不同角度的图片计算得到待成像物的立体图像及尺寸。本发明提供的非接触式测量方法,通过非接触式测量设备的摄像头对待成像物进行拍摄以获取图片,并经过设备内部软件建立三维模型,可以准确、便捷的获得待成像物的立体图像及待成像物的尺寸信息,有效的解决了目前的移动设备无法直接进行立体图像成像及获得待成像物尺寸的问题。另外,该技术方案,还可以利用参照识别物作为尺寸参照,以对得到的立体图像及尺寸信息进行校验,进一步保证了立体图像的准确性。
搜索关键词: 接触 测量方法 测量 设备 及其 系统
【主权项】:
一种非接触式测量方法,其特征在于,所述方法包括:非接触式测量设备利用摄像头对待成像物获取多组不同角度的图片;根据所述多组不同角度的图片计算得到所述待成像物的立体图像及尺寸;其中,所述根据所述多组不同角度的图片计算得到所述待成像物的立体图像及尺寸的步骤具体包括:确定所述待成像物,根据所述待成像物建立成像区域;根据所述多组不同角度的图片在所述成像区域内选择特征点;根据所述特征点生成影像金字塔;解析所述影像金字塔,并得到所述特征点的像方坐标、物方坐标以及外方位元素,以形成数字高程模型;将解析生成的数字高程模型转化成文档对象模型。
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