[发明专利]用于宽禁带半导体的氧化铝-氧化镓混晶材料在审
申请号: | 201510524713.2 | 申请日: | 2015-08-25 |
公开(公告)号: | CN105239162A | 公开(公告)日: | 2016-01-13 |
发明(设计)人: | 夏长泰;赛青林;肖海林 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | C30B29/22 | 分类号: | C30B29/22;C30B13/00;C01G15/00 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 张泽纯;张宁展 |
地址: | 201800 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种用于宽禁带半导体的氧化铝-氧化镓混晶材料,结构式为Ga2-2xAl2xO3,其中氧化铝掺杂摩尔比x为0-50%,及其制备方法。本发明保持了原有的氧化镓晶体结构,形成混晶,晶体具有很高的光学质量,无开裂,散射颗粒,气泡等缺陷,颜色均匀;通过掺杂,晶体的紫外吸收截止边延伸到210-255nm,是一种非常优良的深紫外衬底材料。 | ||
搜索关键词: | 用于 宽禁带 半导体 氧化铝 氧化 镓混晶 材料 | ||
【主权项】:
一种用于宽禁带半导体的氧化铝‑氧化镓混晶材料,其特征在于:其结构式为Ga2‑2xAl2xO3,其中氧化铝掺杂摩尔比x为0‑50%。
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