[发明专利]激光测量装置有效

专利信息
申请号: 201510529475.4 申请日: 2015-08-26
公开(公告)号: CN105388483B 公开(公告)日: 2020-07-31
发明(设计)人: 江野泰造 申请(专利权)人: 株式会社拓普康
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01S7/48
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 秦琳;陈岚
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及激光测量装置。具备:发光部,照射脉冲测距光;受光部,对反射脉冲测距光进行光接收;以及控制运算部,控制所述发光部,并且,基于来自所述受光部的受光信号对到测定对象物的距离进行运算,所述发光部具有:发光源,对激励激光进行发光;光点直径变更单元,对所述激励激光的光点直径进行变更;以及光谐振部,照射经由该光点直径变更单元入射的所述激励激光来作为所述脉冲测距光。
搜索关键词: 激光 测量 装置
【主权项】:
一种激光测量装置,其中,具备:发光部,照射脉冲测距光;受光部,对反射脉冲测距光进行光接收;以及控制运算部,控制所述发光部,并且,基于来自所述受光部的受光信号对到测定对象物的距离进行运算,所述发光部具有:发光源,对激励激光进行发光;光点直径变更单元,对所述激励激光的光点直径进行变更;以及光谐振部,照射经由该光点直径变更单元入射的所述激励激光来作为所述脉冲测距光。
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