[发明专利]钝化膜的制备方法、太阳电池及其制备方法在审
申请号: | 201510538583.8 | 申请日: | 2015-08-28 |
公开(公告)号: | CN105140342A | 公开(公告)日: | 2015-12-09 |
发明(设计)人: | 许烁烁;曹骞;杨晓生;刘良玉 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十八研究所 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0216;H01L31/068 |
代理公司: | 湖南兆弘专利事务所 43008 | 代理人: | 周长清;黄丽 |
地址: | 410111 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种钝化膜的制备方法、太阳电池及其制备方法。钝化膜的制备方法包括在硅片的PN结和电极之间沉积厚度为1nm~10nm的钝化膜。太阳电池包括基底硅片、PN结和主栅电极,PN结位于基底硅片的前表面上,主栅电极设于PN结上,PN结和主栅电极之间设有一层厚度为1nm~10nm的钝化膜。其制备方法包括以下步骤:(1)制备PN结;(2)在PN结上的预设主栅位置处沉积厚度为1nm~10nm的钝化膜;(3)印刷电极浆料,烧结后得到太阳电池。本发明的太阳电池转换效率高,其制备方法可大幅度减少主栅处的表面复合速率,在保证短路电流和填充因子的基础上较大程度的提升开路电压,有效提高光电转换效率。 | ||
搜索关键词: | 钝化 制备 方法 太阳电池 及其 | ||
【主权项】:
一种钝化膜的制备方法,包括以下步骤:在硅片的PN结和电极之间沉积钝化膜,所述钝化膜的厚度为1nm~10nm。
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H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
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