[发明专利]基于光强测量积分时间优化的Stokes矢量测量方法有效
| 申请号： | 201510546871.8 | 申请日： | 2015-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN105203209B | 公开（公告）日： | 2017-07-11 |
| 发明（设计）人： | 胡浩丰;李校博;刘铁根;黄柄菁;江俊峰;刘琨 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 | 代理人： | 李素兰 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于光强测量积分时间优化的Stokes矢量测量系统及方法，激光光源发出的光经过准直透镜入射到反射板，经反射板反射后经过第一偏振片形成固定的待测Stokes矢量，再经过由四分之一波片和第二偏振片组成的偏振态分析器后进入光强探测器件；调节四分之一波片和第二偏振片的角度实现测量矩阵W中的各个偏振状态；根据各个偏振状态求出相应的测量矩阵，将各个PSA状态下的光强测量积分时间考虑在内；计算待测Stokes矢量总方差关于积分时间的函数；利用最优化算法求待测Stokes矢量总方差对应的最优化光强测量积分时间；根据优化后的积分时间进行采集实验，计算Stokes矢量各个分量的方差及其总方差。本发明有效降低Stokes矢量测量的总方差，从而提高Stokes矢量测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 测量 积分 时间 优化 stokes 矢量 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种基于光强测量积分时间优化的Stokes矢量测量方法，其特征在于，该系统包括以下步骤：步骤一、根据偏振态分析器的各个偏振状态求出相应的测量矩阵W，并将光强探测器件在各个PSA状态下的光强测量积分时间考虑在内，光强计算公式如下：I＝TWS其中，I表示光强，T表示测量时间矩阵，W表示偏振态分析器对应的测量矩阵，S表示待测Stokes矢量；步骤二、计算出在给定测量矩阵W的情况下待测Stokes矢量总方差关于积分时间的函数：Γs＝(TW)‑1ΓI[(TW)‑1]'其中，ΓS表示Stokes矢量的方差矩阵；步骤三、利用最优化算法求出待测Stokes矢量总方差对应的最优化光强测量积分时间；步骤四、根据优化后的积分时间进行采集实验，并计算Stokes矢量各个分量的方差及其总方差。
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