[发明专利]一种高分辨率层序地层格架约束的地质统计学反演方法

摘要

本发明涉及一种高分辨率层序地层格架约束的地质统计学反演方法，其包括步骤进行井‑震标定，并提取优化目标区多井子波；以井‑震标定为基础，建立高分辨率层序地层格架；根据目的层地震数据、地质先验数据、测井数据，构建以高分辨率层序地层格架为基础的地质低频模型，并进行高分辨率层序地层格架约束下的稀疏脉冲反演，得到稀疏脉冲反演数据体；以曲流河地质知识库为基础，结合目的层测井数据和地震特征数据，采用高分辨率层序地层格架为约束选取优化目的层砂地比和水平变程，并进行高分辨率层序地层格架约束下的地质统计学反演；基于最终的地质统计学反演结果，运用GR测井曲线对储层进行精细标定，并运用基于反演结果提取的地震属性来预测储集砂体平面展布。

主权项

一种高分辨率层序地层格架约束的地质统计学反演方法，其特征在于：所述反演方法包括以下步骤：1)根据目的层测井数据、地震特征数据进行井‑震标定，并通过多井振幅谱、多井相位谱及子波旁瓣检查提取优化目标区多井子波；2)以井‑震标定为基础，采用“井‑震互动”的方法建立高分辨率层序地层格架；3)根据目的层地震特征数据、地质先验数据、测井数据，采用可视化方法构建以高分辨率层序地层格架为基础的地质低频模型，并进行高分辨率层序地层格架约束下的稀疏脉冲反演，得到稀疏脉冲反演数据体；4)以曲流河地质知识库为基础，结合目的层测井数据和地震特征数据，采用高分辨率层序地层格架为约束选取优化目的层砂地比和水平变程，并进行高分辨率层序地层格架约束下的地质统计学反演；(1)在高分辨率层序地层格架约束下，以计算的单井岩性曲线为基础，计算单井垂向单砂体厚度，作为目的层河道满岸深度，运用Leeder经验公式计算目的层河道满岸宽度Wc；(2)运用Lorenz经验公式计算目的层点坝宽度Wm；(3)由已知的现代河流河道满岸宽度与点坝长度实测数据，根据曲流河地质知识库运用Matlab软件拟合河道满岸宽度与点坝长度的关系式；(4)根据目的层点坝长度和点坝宽度数据正态分布特征，选取正态分布特征的最小值、平均值和正态分布峰值处数据作为水平变程，进行反演测试，遴选最佳反演结果对应参数值作为水平变程；5)基于最终的地质统计学反演结果，运用GR测井曲线对储层进行精细标定，并运用基于最终的地质统计学反演结果提取的地震属性来预测储集砂体平面展布。