[发明专利]基于宽带荧光光谱的强度比测温方法

摘要

本发明涉及到一种基于宽带荧光光谱的强度比测温方法，主要是利用宽带荧光发射谱谱带上选取的双波长光强度比随温度变化的现象。该方法用于温度测量时，在特定宽带荧光材料的发射光谱谱带的波长范围内选定两个合适的波长，计算这两个波长的荧光发射强度比，强度比数值与温度值的函数关系即为传感方程，未知温度下的荧光强度比数值是传感信号，输入到传感方程即得到待测温度值。本发明给出了一种新的荧光强度比测温方法，不再限于传统的荧光强度比测温技术使用有限的几种稀土离子的分立谱线发光光谱，因此荧光强度比测温敏感材料的可选范围更广，成本更低。

主权项

一种基于宽带荧光光谱的强度比测温方法，包括给予合适的宽带光谱荧光材料、选定有效的激发条件、在光谱谱带范围内选取合适的两个波长，在一定温度范围内测量这两个波长的发射强度，求取不同温度下的强度比并拟合得到荧光强度比温度传感函数，测量未知温度时将对应的荧光强度比输入该温度传感函数即可；其特征在于方法步骤如下：步骤一、选定荧光材料以及匹配的激发光源、分光元件、探测器件，组成荧光温度传感系统；步骤二、从荧光材料的荧光光谱中选择合适的两个波长，记录它们的荧光强度比，在一定温度范围内逐渐设置改变荧光材料的温度，记录所述两个荧光强度的比值随温度的变化，拟合得到荧光强度比温度传感函数；温度传感函数不唯一，选取被监测的两个波长不同，温度传感函数也不同；步骤三、将该荧光材料置于未知温度环境下，用步骤一中的激发光激发，记录待测温度下步骤二所述的荧光强度比，代入步骤二中的温度传感函数得到被测温度。