[发明专利]核电站主泵密封室的检修方法有效

专利信息
申请号: 201510572098.2 申请日: 2015-09-09
公开(公告)号: CN105206315B 公开(公告)日: 2017-09-26
发明(设计)人: 高培;安建军;刘军生;陈英杰;吴小锋;刘超;毛文军;裴宏宇 申请(专利权)人: 中广核核电运营有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司
主分类号: G21C17/01 分类号: G21C17/01
代理公司: 深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙)44314 代理人: 张约宗,张秋红
地址: 518031 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种核电站主泵密封室的检修方法,用于核电站主泵的一号密封室,包括以下步骤A.尺寸测量;和/或,B.缺陷检查;步骤A包括A1、将所述一号密封室筒体中部的内周表面作为第一基准面;A2、在所述第一基准面的基础上约定生成第二基准面,所述第一基准面和所述第二基准面的同轴度形位公差在0.1mm以内;A3、在所述第二基准面的基础上约定生成第三基准面,所述第三基准面和所述第二基准面的垂直度形位公差在0.05mm以内;所述第三基准面的表面粗糙度≤1.6μm;A4、根据确定的所述第一基准面、第二基准面和第三基准面,对所述一号密封室的各部位进行测量。本发明操作简单。
搜索关键词: 核电站 密封 检修 方法
【主权项】:
一种核电站主泵密封室的检修方法,用于核电站主泵的一号密封室,其特征在于,包括以下步骤:A.尺寸测量;或者,A.尺寸测量和B.缺陷检查;所述步骤A包括:A1、将所述一号密封室筒体中部的内周表面作为第一基准面;A2、在所述第一基准面的基础上约定生成第二基准面,所述第一基准面和所述第二基准面的同轴度形位公差在0.1mm以内;A3、在所述第二基准面的基础上约定生成第三基准面,所述第三基准面和所述第二基准面的垂直度形位公差在0.05mm以内;所述第三基准面的表面粗糙度≤1.6μm;A4、根据确定的所述第一基准面、第二基准面和第三基准面,对所述一号密封室的各部位进行测量;所述步骤B包括:B1、对所述一号密封室的各表面是否有缺陷进行检查;B2、对所述一号密封室的各表面进行液体渗透检查,以测出缺陷;所述缺陷均包括划痕、凹坑和裂纹。
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