[发明专利]一种单点相差定位方法在审
申请号: | 201510573517.4 | 申请日: | 2015-09-10 |
公开(公告)号: | CN105277919A | 公开(公告)日: | 2016-01-27 |
发明(设计)人: | 郁涛 | 申请(专利权)人: | 郁涛 |
主分类号: | G01S5/06 | 分类号: | G01S5/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201615 上海市松*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明利用相差变化率的多通道相差测量法和相差变化率的无模糊检测法,将基于相差变化率的定位测距方程转化为相差测向和无模糊程差差分的组合函数,一方面借助一维等距双基阵所测得的相差值解算无模糊程差差分值,另一方面利用一维阵列的相差测向给定目标的方位值,由此给出了一种与波长整周数差值无关的、能实现较高测量精度的单节点相差定位方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 单点 相差 定位 方法 | ||
【主权项】:
一种能实现高精度测量的单节点相差定位方法,其特征是先在长基线相差测向解的基础上导出基于相差变化率的测距式,然后通过利用相差变化率的多通道相差测量法和相差变化率的无模糊检测法,将基于相差变化率的定位测距方程转化为短基线相差测向和无模糊程差差分的组合函数,一方面借助一维等距双基阵所测得的相差值解算无模糊程差差分值,另一方面利用一维阵列的相差测向给定目标的方位值。
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