[发明专利]一种超辐射发光二极管的制作方法及制得的发光二极管有效

专利信息
申请号: 201510581147.9 申请日: 2015-09-14
公开(公告)号: CN105280763B 公开(公告)日: 2017-08-29
发明(设计)人: 薛正群;苏辉;周东豪;訾慧;王凌华;林琦;林中晞;陈阳华 申请(专利权)人: 中国科学院福建物质结构研究所
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/06;H01L33/30;H01L33/02
代理公司: 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙)11535 代理人: 刘元霞
地址: 350002 *** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明涉及一种超辐射发光二极管的制作方法,包括以下步骤一次外延片的生长步骤、形成脊的步骤、掩埋的步骤、形成P面电极金属的步骤、形成N面电极金属的步骤、解离的步骤,从而制得超辐射发光二极管。本发明还提出一种由所述制作方法制得的超辐射发光二极管。本发明采用新型的异质结掩埋工艺来优化和改善芯片的输出功率,一方面与常规的生长温度相比,本发明提高生长温度,优化在脊侧壁的光滑度;另一方面采用掺杂浓度优化的掩埋工艺来降低光场的损耗,从而提高输出功率。本发明的SLD芯片具有谱线宽、增益高、输出大的优点。
搜索关键词: 一种 辐射 发光二极管 制作方法
【主权项】:
一种超辐射发光二极管的制作方法,其特征在于,该制作方法包括以下步骤:一次外延片的生长步骤:在InP衬底片上依次生长N型InP缓冲层,InGaAsP势垒层,GaAs层,InAs量子点;重复生长上述的InGaAsP势垒层、GaAs层、InAs量子点,直至生长成多层InGaAsP势垒层/GaAs层/InAs量子点,再生长InGaAsP势垒覆盖层;最后生长InP保护层;形成脊的步骤:对上述一次外延片沉积SiO2介质层,光刻,刻蚀SiO2,之后进行腐蚀,形成脊形状结构;掩埋的步骤:在脊结构上依次生长掩埋异质结的P‑InP层、掩埋的N‑InP层、浓度由低到高渐变的P‑InP层、P‑InGaAsP层和重掺杂接触层P+‑InGaAs层;形成P面电极金属的步骤:在掩埋后的样品表面沉积SiO2,光刻形成P面一次金属,刻蚀电极区域表面SiO2,经电子束蒸发、剥离、退火后,再次光刻、电子束蒸发、剥离形成P面电极金属;形成N面电极金属的步骤:对形成P面电极金属的样品的衬底层进行研磨减薄,电子束蒸发后形成N面电极金属,对N面和P面电极金属进行合金;解离的步骤:将合金后的样品沿着晶向解离成巴条,从而制得1550nm超辐射发光二极管。
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