[发明专利]一种适用于TDD-LTE系统外干扰的分析方法在审

专利信息
申请号: 201510588900.7 申请日: 2015-09-16
公开(公告)号: CN105163340A 公开(公告)日: 2015-12-16
发明(设计)人: 吕猛;曹玉良;齐进;岳友红;季茂林;张艳辉;霍岳恒;陈晖 申请(专利权)人: 天津市德力电子仪器有限公司
主分类号: H04W24/02 分类号: H04W24/02
代理公司: 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 代理人: 侯力
地址: 300392 天津市西青区滨*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种适用于TDD-LTE系统外干扰的分析方法,所述方法的步骤包括:接收来自中频AD采样后的TDD-LTE下行信号,经过数字下变频到基带,利用本地同步序列和基带信号做三级相关运算,得到TDD-LTE帧头的位置,从而能够得到各个子帧和特殊时隙的起始和终止时刻。对上行子帧或者GP时隙的时域信号加窗处理后,做FFT快速傅里叶变换得到频域信号,对频域信号计算功率谱。GP时隙的功率谱中的出现的异常信号即系统外干扰,而上行子帧的功率谱中出现的是上行信号和系统外干扰。
搜索关键词: 一种 适用于 tdd lte 系统 干扰 分析 方法
【主权项】:
一种适用于TDD‑LTE系统外干扰的分析方法,所述方法包括如下步骤:第一、TDD‑LTE射频信号经过下变频后变换至中频,利用高速AD对信号进行中频采样,采样速率为中频带宽的2倍以上,并且为LTE 20M带宽的信号采样率30.72M的整数倍;第二、过数字NCO将采集的中频信号搬移至基带,亦即将中频信号混频到零频;第三、为了降低对后续计算能力的要求,将原有符号率Fsh变为低速符号率Fsl,Fsl为1.92M,或者1.92M的整数倍,Fsh/Fsl为整数;第四、利用本地PSS时域序列与低速符号率的信号做互相关运算,得到低速符号率信号的PSS同步位置,并将此位置折算成原有符号率信号的PSS位置,即PSS粗同步位置;第五、为了进一步精确定时,需要在原有采样率信号的粗同步位置上,向前后各滑动N个采样点,N取Fsh/Fsl,每滑动一个点计算一次FFT,并且和PSS频域序列做一次相关,得到一个相关值,窗口滑动完成以后,最大相关值的窗口起始位置即精确同步的PSS符号位置;第六、基于PSS精确同步的位置找到SSS辅同步序列所在的符号,并利用此符号和本地SSS序列相关能够确定当前半帧是前半帧还是后半帧,从而得到帧同步的位置;第七、基于帧同步的位置得到GP时隙或者上行子帧的时域数据,对此时域数据行加窗处理和FFT运算,对处理后的数据取模和检波处理,并以对数的形式表示功率谱;第八、基于得到的频谱能够分析系统外干扰的特征,并且利用定向天线查找干扰的方向以及具体位置。
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