[发明专利]一种全光纤微弱磁场测量装置

摘要

本发明提供了一种全光纤微弱磁场测量装置。该测量装置通过在磁敏感模块中形成全光纤FBG F-P腔，当周围磁场发生变化时，磁致伸缩元件的伸缩作用会使全光纤FBG F-P腔的腔长发生改变，并导致全光纤FBG F-P腔反射的干涉信号的光谱特性发生改变，通过干涉信号的光谱特性数据分析即可精确计算出磁场强度。通过上述方式，本发明能够精确测量微弱磁场的磁场强度。

主权项

一种全光纤微弱磁场测量装置，其特征在于，包括光源模块、光纤环形器、磁敏感模块、光谱采集模块和处理模块，所述光纤环形器包括与所述光源模块连接的第一端口、与所述磁敏感模块连接的第二端口和与所述光谱采集模块连接的第三端口，所述光谱采集模块连接所述处理模块，所述磁敏感模块包括光纤和磁致伸缩元件，所述光纤固定在所述磁致伸缩元件上，所述光纤上刻写有间隔预定光纤长度的两个啁啾光纤光栅以形成全光纤FBG F‑P腔，所述两个啁啾光纤光栅的反射波长、反射率以及反射光谱带宽均一致；所述光源模块用于向所述第一端口输出稳定光谱和功率的光信号，所述第二端口用于将所述光信号注入所述磁敏感模块，以使所述全光纤FBG F‑P腔向所述第二端口反射所述光信号的干涉信号，所述第三端口用于向所述光谱采集模块输出所述干涉信号，所述光谱采集模块用于采集所述干涉信号的光谱特性数据，所述处理模块用于根据所述光谱特性数据测量磁场强度。