[发明专利]一种改善晶圆形变的曝光载片台有效
申请号: | 201510608938.6 | 申请日: | 2015-09-22 |
公开(公告)号: | CN105159035B | 公开(公告)日: | 2018-05-18 |
发明(设计)人: | 蔡亮;吴鹏;陈力钧 | 申请(专利权)人: | 上海华力微电子有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及半导体领域,尤其涉及一种改善晶圆形变的曝光载片台。本发明应用于通过曝光机向载片台上方的硅片进行曝光的过程中,硅片放置于载片台的正上方,载片台上设置有吸真空孔,载片台的表面涂有涂层,涂层的摩擦系数μ为0.4‑0.8,涂层的导热系数λ为20‑400W/m.k。 | ||
搜索关键词: | 一种 改善 圆形 曝光 载片台 | ||
【主权项】:
1.一种改善晶圆形变的曝光载片台,硅片放置于载片台的正上方,所述载片台上设置有吸真空孔,其特征在于,所述载片台的表面涂有涂层,所述涂层的摩擦系数μ为0.4-0.8,所述涂层的导热系数λ为20-400W/m.k。
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