[发明专利]阵列基板及其制备方法有效
申请号: | 201510609449.2 | 申请日: | 2015-09-22 |
公开(公告)号: | CN105097675B | 公开(公告)日: | 2018-01-30 |
发明(设计)人: | 贺超;唐国强;郭远;李娟;陈玉霞 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司;武汉华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12;H01L21/28 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种阵列基板及其制备方法。本发明的阵列基板的制备方法,将栅极与源漏极制作在同一金属层内,并将传统的整面型的公共电极层分割为两部分,其中一部分用作公共电极,另一部分用于实现栅极扫描信号输入,从而减少一道层间绝缘层制程,节省工艺制作成本;本发明的阵列基板,栅极与源漏极位于同一金属层内,栅极与源漏极之间不存在层间绝缘层,结构简化,从而降低了阵列基板的工艺制作成本。 | ||
搜索关键词: | 阵列 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种阵列基板的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供一基板(11),在所述基板(11)上依次形成遮光层(12)、缓冲层(13),在所述缓冲层(13)上形成多晶硅层(14),对所述多晶硅层(14)的两端进行N型离子注入,得到位于所述多晶硅层(14)两端的N型重掺杂区(141)、及位于两N型重掺杂区(141)之间的未掺杂区(145),在所述多晶硅层(14)上沉积栅极绝缘层(15);步骤2、在所述栅极绝缘层(15)上涂布光刻胶,利用半灰阶掩模板对该光刻胶进行曝光、显影,得到光阻层(50),所述光阻层(50)上对应所述N型重掺杂区(141)上方设有通孔(51),并且所述光阻层(50)上对应于所述未掺杂区(145)上方的厚度大于其它区域的厚度;步骤3、以光阻层(50)为遮蔽层,对所述栅极绝缘层(15)进行干法刻蚀,从而得到位于所述N型重掺杂区(141)上方的第一过孔(151),对所述光阻层(50)进行氧气灰化处理,经氧气灰化处理后,剩余的光阻层(50)位于所述多晶硅层(14)的未掺杂区(145)的上方,且尺寸小于该未掺杂区(145)的尺寸;步骤4、以剩余的光阻层(50)为遮蔽层,对所述未掺杂区(145)的两端进行N型离子注入,在所述未掺杂区(145)的两端形成N型轻掺杂区(142),定义两N型轻掺杂区(142)之间的未掺杂区域为沟道区(143);去除光阻层(50),在所述栅极绝缘层(15)上沉积形成金属层,图案化该金属层,得到栅极(16)、源极(17)、及漏极(18),所述栅极(16)、源极(17)、及漏极(18)不相连,所述源极(17)、及漏极(18)分别通过第一过孔(151)与所述N型重掺杂区(141)相连接;步骤5、在所述栅极(16)、源极(17)、及漏极(18)上形成平坦层(19),通过光刻制程在所述平坦层(19)上形成对应于所述栅极(16)上方的第二过孔(191)、以及对应于所述漏极(18)上方的第三过孔(192);步骤6、在所述平坦层(19)上形成一ITO薄膜,图案化该ITO薄膜,得到公共电极(201)、及透明电极(202),所述透明电极(202)通过第二过孔(191)与所述栅极(16)相连接,从而栅极扫描信号可以通过该透明电极(202)输入到栅极(16)上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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