[发明专利]一种Mura自动检测方法及系统有效
申请号: | 201510615715.2 | 申请日: | 2015-09-24 |
公开(公告)号: | CN105158942B | 公开(公告)日: | 2018-07-06 |
发明(设计)人: | 陶子英;王娟娟 | 申请(专利权)人: | 昆山龙腾光电有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 | 代理人: | 杨波 |
地址: | 215301 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供一种Mura自动检测方法,包括建立数据库,建立JND值数据库包括:利用图像成像装置采集多个参考显示面板的图像;将每个参考显示面板的图像分别分为多个区域;接收每个参考显示面板的每个区域的JND观测值;对JND观测值进行正态分布统计处理;以及存储多个参考显示面板的每个区域的图像及对应的参考JND值;利用图像成像装置采集待测显示面板的图像;将待测显示面板的图像分为多个区域;以及调用数据库中与待测显示面板的区域的图像最接近的图像的参考JND值作为实际JND值。本发明还提供一种Mura自动检测装置。本发明提供的Mura自动检测方法及系统能通过调用数据库中的参考JND值实现Mura的自动检测,提高了准确率与效率。 | ||
搜索关键词: | 显示面板 图像 参考 自动检测 图像成像装置 数据库 调用 观测 正态分布统计 自动检测装置 采集 建立数据库 准确率 存储 | ||
【主权项】:
1.一种Mura自动检测方法,其特征在于,包括:建立数据库,所述建立数据库包括:利用图像成像装置采集多个参考显示面板的图像;将每个参考显示面板的图像分别分为多个区域;接收每个参考显示面板的每个区域的JND观测值;将每个参考显示面板的每个区域的JND观测值进行正态分布统计处理,以得到每个参考显示面板的每个区域的参考JND值;以及存储所述多个参考显示面板的每个区域的图像及对应的参考JND值;利用图像成像装置采集待测显示面板的图像;将所述待测显示面板的图像分为多个区域;以及调用所述数据库中与所述待测显示面板的区域的图像最接近的图像的参考JND值作为实际JND值;其中,将每个参考显示面板的每个区域的JND观测值进行正态分布统计处理,以得到每个参考显示面板的每个区域的参考JND值,包括根据正态分布曲线的3σ准则删除超出范围的JND观测值,且以未超出范围的JND观测值的均值得到每个区域的参考JND值。
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