[发明专利]基于LabVIEW的电路测试系统及其方法

摘要

本发明公开了一种基于LabVIEW的电路测试系统及其方法，属于集成电路测试技术领域，包括：可见光发射机，设有发射机将函数发生器输出的信号指令调制到可见光上形成可见光信号；可见光接收机，接收可见光信号，设有光探测器实现光电信号的转换处理后得到检测电路波形；测试模块，包括数字示波器和函数发生器，数字示波器连接可见光接收机并接收可见光接收机输出的检测电路波形，数字示波器和函数发生器通过LabVIEW进行实时控制和实时待测电路测试，函数发生器连接可见光发射机输入信号指令。本发明解决了现有技术中数据采集卡成本较高的问题，具有在不增加硬件的情况下，方便、准确、自动地调节、显示和记录电路信号波形的优点。

主权项

一种基于LabVIEW的电路测试系统，其特征在于，电路测试系统安装在待测电路中，所述系统包括：可见光发射机，设有发射机将函数发生器输出的信号指令调制到可见光上形成可见光信号，发送到自由空间；可见光接收机，接收可见光发射机发射的可见光信号，设有光探测器实现光电信号的转换，再通过解调、自适应放大、滤波处理得到检测电路波形；测试模块，包括数字示波器和函数发生器，数字示波器连接可见光接收机并接收可见光接收机输出的检测电路波形，数字示波器的输出端连接函数发生器的输入端，数字示波器和函数发生器通过LabVIEW进行实时控制和实时待测电路测试，函数发生器的输出端连接可见光发射机输入信号指令到可见光发射机。