[发明专利]用于片上存储管理单元容错结构的自动验证平台与方法

摘要

本发明提供一种能够实现对容错结构进行随机故障注入验证，验证覆盖率高的用于片上存储管理单元容错结构的自动验证平台与方法。所述平台包括调试主机，以及通过串口连接的待测主机；调试主机用于进行验证流程控制并在验证过程中进行编码结果检查、错误注入、译码结果检查以及对处理器进行监控和调试；待测主机内集成有片上存储体容错结构，用于校验码编码的生成、译码逻辑和错误注入后的译码验证以及对存储体容错结构进行自动化验证程序的加载；所述的存储体容错结构包括存储器控制模块，容错模块，选择器和存储体；存储器控制模块和容错模块分别通过选择器对存储体进行读写控制完成片上存储体容错结构的存储器工作模式和故障注入模式的控制。

主权项

1.用于片上存储管理单元容错结构的自动验证平台，其特征在于，包括调试主机，以及通过串口连接的待测主机；调试主机用于进行验证流程控制并在验证过程中进行编码结果检查、错误注入、译码结果检查以及对处理器进行监控和调试；待测主机内集成有片上存储体容错结构，用于校验码编码的生成、译码逻辑和错误注入后的译码验证以及对存储体容错结构进行自动化验证程序的加载；所述的存储体容错结构包括存储器控制模块，容错模块，选择器和存储体；存储器控制模块和容错模块分别用于在片上存储体容错结构的存储器工作模式和故障注入模式下实现对存储体的读写控制，选择器用于对存储器工作模式和故障注入模式进行选择；存储体包括数据区和校验区，选择器控制端连接由调试主机控制的选择信号MODE_SEL控制故障注入模式和存储器工作模式的切换；当选择信号MODE_SEL赋值选择存储器工作模式时，存储器控制模块输出一套控制信号SCTRL_S将片选信号、读写控制信号输入给存储体，统一控制数据区和校验区的读写；当选择信号MODE_SEL赋值选择故障注入模式时，容错模块输出两套控制信号DATA_S和PAR_S分别控制数据区和校验区，实现数据区和校验区数据的分别写入或读出。